波紋補(bǔ)償器應(yīng)該安裝固定支架后才可進(jìn)行打壓-----波紋補(bǔ)償器安裝的程序、步驟、方法如下：    

（1）先丈量已準(zhǔn)備好的波紋管補(bǔ)償器的全長（含連接法蘭），在管道上為補(bǔ)償器安裝畫出定位中線，按補(bǔ)償器長度畫出補(bǔ)償器的邊線（至連接法蘭的邊緣）。    

（2）依線切割管道，當(dāng)法蘭連接時(shí)要考慮法蘭及墊片所占長度。    

（3）連接焊接接口的補(bǔ)償器：用臨時(shí)支吊架將補(bǔ)償器支吊起進(jìn)行對口，補(bǔ)償器兩邊的接口要同時(shí)對好，同時(shí)進(jìn)行點(diǎn)焊，檢查補(bǔ)償器位置合適后，順序進(jìn)行焊接。    

（4）連接法蘭接口的補(bǔ)償器：先將兩個(gè)法蘭墊片臨時(shí)安裝在補(bǔ)償器上，用臨時(shí)支、吊架將補(bǔ)償器支吊起來，進(jìn)行對口，同時(shí)進(jìn)行點(diǎn)焊，檢查補(bǔ)償器位置合適后，卸開法蘭螺栓，卸下補(bǔ)償器，對兩個(gè)法蘭進(jìn)行焊接，焊好后清理焊渣，檢查焊接質(zhì)量，合格后再對內(nèi)外焊口進(jìn)行處理，將補(bǔ)償器抬起進(jìn)行法蘭的正式安裝。如果不是采用上述安裝方法，補(bǔ)償器隨熱力管道一起進(jìn)行試壓，在試壓前，應(yīng)先將補(bǔ)償器予以固定后，方可隨管道進(jìn)行壓力試驗(yàn)。

是利用射線穿透物體來發(fā)現(xiàn)物體內(nèi)部缺陷的探傷方法。

射線能使膠片感光或激發(fā)某些材料發(fā)出熒光。射線在穿透物體過程中按的規(guī)律衰減，利用衰減程度與射線感光或激發(fā)熒光的關(guān)系可檢查物體內(nèi)部的缺陷。

射線探傷分為X射線探傷、γ射線探傷、射線探傷和中子射線探傷

射線探傷（x、γ）方法（RT）

工業(yè)上常見的無損檢測的方法之一。指使用電磁波對金屬工件進(jìn)行檢測，同X線透視類似。射線穿過材料到達(dá)底片，會(huì)使底片均勻感光；如果遇到裂縫、洞孔以及氣泡和夾渣等缺陷，將會(huì)在底片上顯示出暗影區(qū)來。這種方法能檢測出缺陷的大小和形狀，還能測定材料的厚度。

x射線是由x射線管加高壓電激發(fā)而成，可以通過所加電壓，電流來調(diào)節(jié)x射線的強(qiáng)度。

γ射線是由放射性元素激發(fā)，強(qiáng)度不能調(diào)節(jié)，只隨時(shí)間成指數(shù)倍減小。

利用 X射線或γ射線在穿透被檢物各部分時(shí)強(qiáng)度衰減的不同，檢測被檢物中缺陷的一種無損檢測方法。

原理：被測物體各部分的厚度或密度因缺陷的存在而有所不同。當(dāng)X射線或γ射線在穿透被檢物時(shí),射線被吸收的程度也將不同。若射線的原始強(qiáng)度為I0,通過線吸收系數(shù)為μ的材料至距離l后，強(qiáng)度因被吸收而衰減為I，其關(guān)系為（見圖一）。若將受到不同程度吸收的射線投射在X射線膠片上,經(jīng)顯影后可顯示物體 

厚度變化和內(nèi)部缺陷情況的照片（X射線底片）。這種方法稱為X射線照相法（見圖）。如用熒光屏代替膠片直接觀察被檢物體，稱為透視法。如用光敏元件逐點(diǎn)測定透過后的射線強(qiáng)度而加以記錄或顯示，則稱為儀器測定法。 射線探傷

X 射線是在高真空狀態(tài)下用高速電子沖擊陽極靶而產(chǎn)生的。γ射線是放射性同位素在原子蛻變過程中放射出來的。兩者都是具有高穿透力、波長很短的電磁波。不同厚度的物體需要用不同能量的射線來穿透，因此要分別采用不同的射線源。例如由X射線管發(fā)出的X射線（當(dāng)電子的加速電壓為400千伏時(shí)），放射性同位素60Co所產(chǎn)生的γ射線和由 20兆電子伏直線加速器所產(chǎn)生的X射線，能穿透的鋼材厚度分別約為90毫米、230毫米和600毫米。

射線照相法能較直觀地顯示工件內(nèi)部缺陷的大小和形狀,因而易于判定缺陷的性質(zhì),射線底片可作為檢驗(yàn)的原始記錄供多方研究并作長期保存。但這種方法耗用的X射線膠片等器材費(fèi)用較高，檢驗(yàn)速度較慢，只宜探查氣孔、夾渣、縮孔、疏松等體積性缺陷，能定性但不能定量，且不適合用于有空腔的結(jié)構(gòu)，對角焊、T型接頭的檢驗(yàn)敏感度低，不易發(fā)現(xiàn)間隙很小的裂紋和未熔合等缺陷以及鍛件和管、棒等型材的內(nèi)部分層性缺陷。此外，射線對人體，需要采取適當(dāng)?shù)姆雷o(hù)措施。